Nonlinear microscopy of nano-objects using excitation beam profiles with engineered phase jumps

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa

Tutkijat

Organisaatiot

  • Tampere University of Technology

Kuvaus

We introduce nonlinear microscopy with phase-engineered incident beams. By controlling the phase across an incident Hermite-Gaussian HG10 beam, we vary the longitudinal electric field component at focus, allowing tailoring of second-harmonic generation from vertically-oriented nanowires.

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2016 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2016
TilaJulkaistu - 16 joulukuuta 2016
OKM-julkaisutyyppiB3 Ei-soviteltu artikkeli konferenssin julkaisusarjassa
TapahtumaConference on Lasers and Electro-Optics - San Jose, Yhdysvallat
Kesto: 5 kesäkuuta 201610 kesäkuuta 2016

Julkaisusarja

NimiConference on Lasers and Electro-Optics
ISSN (painettu)2160-9020

Conference

ConferenceConference on Lasers and Electro-Optics
LyhennettäCLEO
MaaYhdysvallat
KaupunkiSan Jose
Ajanjakso05/06/201610/06/2016

ID: 10796181