Nonlinear microscopy of nano-objects using excitation beam profiles with engineered phase jumps

L. Turquet, J. P. Kakko, Lasse Karvonen, H. Jiang, T. J. Isotalo, T. Huhtio, T. Niemi, E. Kauppinen, H. Lipsanen, M. Kauranen, G. Bautista

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientific

Abstrakti

We introduce nonlinear microscopy with phase-engineered incident beams. By controlling the phase across an incident Hermite-Gaussian HG10 beam, we vary the longitudinal electric field component at focus, allowing tailoring of second-harmonic generation from vertically-oriented nanowires.

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2016 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2016
KustantajaIEEE
Sivumäärä2
ISBN (elektroninen)9781943580118
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 16 joulukuuta 2016
OKM-julkaisutyyppiB3 Ei-soviteltu artikkeli konferenssin julkaisusarjassa
TapahtumaConference on Lasers and Electro-Optics - San Jose, Yhdysvallat
Kesto: 5 kesäkuuta 201610 kesäkuuta 2016

Julkaisusarja

NimiConference on Lasers and Electro-Optics
ISSN (painettu)2160-9020

Conference

ConferenceConference on Lasers and Electro-Optics
LyhennettäCLEO
MaaYhdysvallat
KaupunkiSan Jose
Ajanjakso05/06/201610/06/2016

Sormenjälki Sukella tutkimusaiheisiin 'Nonlinear microscopy of nano-objects using excitation beam profiles with engineered phase jumps'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

  • Siteeraa tätä

    Turquet, L., Kakko, J. P., Karvonen, L., Jiang, H., Isotalo, T. J., Huhtio, T., ... Bautista, G. (2016). Nonlinear microscopy of nano-objects using excitation beam profiles with engineered phase jumps. teoksessa 2016 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2016 [7787710] (Conference on Lasers and Electro-Optics). IEEE. https://doi.org/10.1364/CLEO_QELS.2016.FTh3A.6