Non-local screened-exchange calculations for defects in semiconductors: vacancy in silicon

Juha Lento, Risto M. Nieminen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

38 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisuJournal of physics: Condensed matter
Vuosikerta15
TilaJulkaistu - 2003
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä