New verification routine for pulsed I-V and transient current measurement setup applied to a THz Schottky diode

Subash Khanal, Tero Kiuru, Juha Mallat, Antti V. Räisänen, Tapani Närhi

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko43rd European Microwave Conference (EuMW 2013), Nuremberg, Germany, October 6-11, 2013
JulkaisupaikkaNürnberg, Germany
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Tutkimusalat

  • pulsed I-V
  • Schottky diode
  • thermal impedance
  • transient current measurement

Siteeraa tätä