New method for the determination of the defect profile in thin layers grown over a substrate

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

  • A. Zubiaga
  • J.A. Garcia
  • F. Plazaola
  • Filip Tuomisto

  • J. Zuniga-Perez
  • V. Munoz-San Jose

Organisaatiot

  • University of the Basque Country
  • University of Valencia

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut3973-3976
Sivumäärä4
JulkaisuPHYSICA STATUS SOLIDI C: CURRENT TOPICS IN SOLID STATE PHYSICS
Vuosikerta4
Numero10
TilaJulkaistu - syyskuuta 2007
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • layer, positron annihilation, ZnO

ID: 3518817