Neural network-based negative selection algorithm with applications in fault diagnosis

X.T. Gao, Seppo Ovaska, X. Wang

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    8 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Otsikkothe IEEE International Conference on Systems, Man, and Cybernetics, The Hague, Neatherlands, October 2004
    Sivut3408-3414
    TilaJulkaistu - 2004
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Tutkimusalat

    • artificial immune systems
    • fault diagnosis
    • neural networks

    Siteeraa tätä