Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Near-field measurements of submillimeter-wave reflectarrays

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

    6 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoSPIE Defense, Security, and Sensing 2013, Passive and Active Millimeter-Wave Imaging XVI, Baltimore, United States, 29 April - 3 May 2013
    JulkaisupaikkaBaltimore, United States
    KustantajaSPIE
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2013
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

    Julkaisusarja

    Nimi
    KustantajaSPIE
    ISSN (painettu)0277-786X

    Siteeraa tätä