MULTIPASS GRATING INTERFEROMETER APPLIED TO LINE NARROWING IN EXCIMER LASERS

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut3810-3815
Sivumäärä6
JulkaisuApplied Optics
Vuosikerta25
Numero21
TilaJulkaistu - 1 marraskuuta 1986
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä