Molecular dynamics study of oxygen defects in silicon

P. Grönberg, J. von Boehm, R.M. Nieminen

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut47
TilaJulkaistu - 1996
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

Julkaisusarja

NimiNATO Advanced Research Workshop OXYGEN, Exeter, 1996

Tutkimusalat

  • molecular dynamics
  • oxygen defect
  • silicon

Siteeraa tätä