Molecular dynamics study of oxygen defects in silicon

P.J. Grönberg, J. von Boehm, R.M. Nieminen

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaChapterScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoEarly Stages of Oxygen Precipitation in Silicon
ToimittajatR. Jones
JulkaisupaikkaThe Netherlands
KustantajaKluwer Academic Publishers
Sivut441-446
TilaJulkaistu - 1996
OKM-julkaisutyyppiA3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa

Tutkimusalat

  • molecular dynamics
  • oxygen defect
  • silicon

Siteeraa tätä