Molecular dynamics study of oxygen defects in silicon

P.J. Grönberg, J. von Boehm, R.M. Nieminen

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaChapterScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoEarly Stages of Oxygen Precipitation in Silicon
ToimittajatR. Jones
JulkaisupaikkaThe Netherlands
KustantajaKluwer Academic Publishers
Sivut441-446
TilaJulkaistu - 1996
OKM-julkaisutyyppiA3 Kirjan osa tai toinen tutkimuskirja

Tutkimusalat

  • molecular dynamics
  • oxygen defect
  • silicon

Siteeraa tätä

Grönberg, P. J., von Boehm, J., & Nieminen, R. M. (1996). Molecular dynamics study of oxygen defects in silicon. teoksessa R. Jones (Toimittaja), Early Stages of Oxygen Precipitation in Silicon (Sivut 441-446). Kluwer Academic Publishers.