Molecular dynamics study of oxygen defects in silicon

P. Grönberg, J. von Boehm, R.M. Nieminen

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisupaikkaEspoo
Sivut7
TilaJulkaistu - 1996
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

Julkaisusarja

NimiXXX Annual Conference of the Finnish Physical Society, Espoo, Finland
KustantajaTKK-F-A747

Siteeraa tätä

Grönberg, P., von Boehm, J., & Nieminen, R. M. (1996). Molecular dynamics study of oxygen defects in silicon. (Sivut 7). (XXX Annual Conference of the Finnish Physical Society, Espoo, Finland).