Molecular Dynamics Simulations of Diffusion in Extended Defects in Silicon

J. von Boehm, H.M. Isomäki

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut11
TilaJulkaistu - 1997
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

Julkaisusarja

NimiXXXI Annual Conference of the Finnish Physical Society, March 13-15, Helsinki

Tutkimusalat

  • diffusion

Siteeraa tätä