Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Modulation of GaAs(100) surface morphology by ultra-thin MOVPE grown InP layers

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

    Abstrakti

    The impact of ultra-thin MOVPE grown InP layers on the surface morphology of GaAs(100) was studied in the InP/GaAs material system which is used to produce self-organized quantum dots through the Stranski-Krastanow (SK) growth mode. Temperature and InP coverage dependent 2D and 3D morphology regimes were discovered. At low temperatures the sample morphology remained 2D for all InP coverages up to the SK transition. Two dimensional morphology was achieved at higher temperatures only for samples with more than a complete monolayer of InP. Group V atom exchange during sample cooling was found to cause the morphology transition at smaller InP coverages.

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoPhysics of Semiconductors, Parts A and B
    ToimittajatJ Menendez, CG VanDeWalle
    KustantajaAmerican Institute of Physics
    Sivut117-118
    Sivumäärä2
    ISBN (painettu)0735402574
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2005
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
    TapahtumaInternational Conference on the Physics of Semiconductors - Flagstaff, Yhdysvallat
    Kesto: 26 heinäk. 200430 heinäk. 2004
    Konferenssinumero: 27

    Julkaisusarja

    NimiAIP Conference Proceedings
    KustantajaAIP
    Vuosikerta772
    ISSN (painettu)0094-243X

    Conference

    ConferenceInternational Conference on the Physics of Semiconductors
    LyhennettäICPS
    Maa/AlueYhdysvallat
    KaupunkiFlagstaff
    Ajanjakso26/07/200430/07/2004

    Sormenjälki

    Sukella tutkimusaiheisiin 'Modulation of GaAs(100) surface morphology by ultra-thin MOVPE grown InP layers'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

    Siteeraa tätä