Modified porous silicon surfaces as DIOS-MS sample plates

S. Tuomikoski, K. Huikko, P. Östman, K. Grigoras, Marc Baumann, R. Kostiainen, S. Franssila, T. Kotiaho

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut503
TilaJulkaistu - 2002
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

Julkaisusarja

NimiMicroTAS 2002, Nara, Japan

Tutkimusalat

  • electrochemical etching
  • mass spectrometry
  • porous silicon
  • silicon

Siteeraa tätä