Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin 'Modified EAM potentials for modelling stacking-fault behavior in Cu, Al, Au, and Ni'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.- Järjestys:
- Painoarvo
- Aakkosjärjestyksessä
Modified EAM potentials for modelling stacking-fault behavior in Cu, Al, Au, and Ni
P. Szelestey, L. Perondi, M. Patriarca, K. Kaski
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
10
Sitaatiot
(Scopus)