Modeling Field-effect in Black Silicon and its Impact on Device Performance

Juha Heinonen, Toni Pasanen, Ville Vähänissi, Mikko Juntunen, Hele Savin

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

10 Sitaatiot (Scopus)
239 Lataukset (Pure)

Hakutulokset