Migration kinetics of ion-implanted beryllium in ZnO and GaN

Otso Koskelo; Ulli Köster; Filip Tuomisto; Kerttuli Helariutta; Markku Sopanen; Sami Suihkonen; Olli Svensk; Jyrki Räisänen

doi:10.1088/0031-8949/88/03/035603

Migration kinetics of ion-implanted beryllium in ZnO and GaN

Otso Koskelo, Ulli Köster, Filip Tuomisto, Kerttuli Helariutta, Markku Sopanen, Sami Suihkonen, Olli Svensk, Jyrki Räisänen

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

6 Sitaatiot (Scopus)

Alkuperäiskieli	Englanti
Artikkeli	035603
Sivut	1-5
Sivumäärä	5
Julkaisu	Physica Scripta
Vuosikerta	88
Numero	3
DOI - pysyväislinkit	https://doi.org/10.1088/0031-8949/88/03/035603
Tila	Julkaistu - 22 elok. 2013
OKM-julkaisutyyppi	A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Pääsy asiakirjaan

10.1088/0031-8949/88/03/035603

SFX-saatavuus

Koko teksti

Muut tiedostot ja linkit

http://iopscience.iop.org/1402-4896/88/3/035603

OtaNano
Anna Rissanen (Manager)
Aalto-yliopisto
Laitteistot/tilat: Facility

Siteeraa tätä

@article{f835d187e63140668d1182cbd4fb9f6f,

title = "Migration kinetics of ion-implanted beryllium in ZnO and GaN",

author = "Otso Koskelo and Ulli K{\"o}ster and Filip Tuomisto and Kerttuli Helariutta and Markku Sopanen and Sami Suihkonen and Olli Svensk and Jyrki R{\"a}is{\"a}nen",

year = "2013",

month = aug,

day = "22",

doi = "10.1088/0031-8949/88/03/035603",

language = "English",

volume = "88",

pages = "1--5",

journal = "Physica Scripta ",

issn = "0031-8949",

publisher = "IOP Publishing Ltd.",

number = "3",

}

TY - JOUR

T1 - Migration kinetics of ion-implanted beryllium in ZnO and GaN

AU - Koskelo, Otso

AU - Köster, Ulli

AU - Tuomisto, Filip

AU - Helariutta, Kerttuli

AU - Sopanen, Markku

AU - Suihkonen, Sami

AU - Svensk, Olli

AU - Räisänen, Jyrki

PY - 2013/8/22

Y1 - 2013/8/22

UR - http://iopscience.iop.org/1402-4896/88/3/035603

U2 - 10.1088/0031-8949/88/03/035603

DO - 10.1088/0031-8949/88/03/035603

M3 - Article

VL - 88

SP - 1

EP - 5

JO - Physica Scripta

JF - Physica Scripta

SN - 0031-8949

IS - 3

M1 - 035603

ER -

Migration kinetics of ion-implanted beryllium in ZnO and GaN

Pääsy asiakirjaan

SFX-saatavuus

Muut tiedostot ja linkit

Laitteet

OtaNano

Siteeraa tätä