Microstructure-based fatigue modelling with residual stresses: Prediction of the fatigue life for various inclusion sizes

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

  • Chao Gu
  • Junhe Lian

  • Yanping Bao
  • Qingge Xie
  • Sebastian Münstermann

Organisaatiot

  • Massachusetts Institute of Technology
  • University of Science and Technology Beijing
  • RWTH Aachen University

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisuINTERNATIONAL JOURNAL OF FATIGUE
Varhainen verkossa julkaisun päivämäärä17 kesäkuuta 2019
TilaSähköinen julkaisu (e-pub) ennen painettua julkistusta - 17 kesäkuuta 2019
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

ID: 34829435