Microstructure-based fatigue modelling with residual stresses: Prediction of the microcrack initiation around inclusions

Chao Gu, Junhe Lian*, Yanping Bao, Sebastian Münstermann

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

16 Sitaatiot (Scopus)
9 Lataukset (Pure)

Sormenjälki Sukella tutkimusaiheisiin 'Microstructure-based fatigue modelling with residual stresses: Prediction of the microcrack initiation around inclusions'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Physics & Astronomy

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science