Microstructural and mechanical characterization of Cu/Sn SLID bonding utilizing Co as contact metallization layer

F. Emadi*, V. Vuorinen, S. Mertin, Kim Widell, M. Paulasto-Kröckel

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
87 Lataukset (Pure)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Microstructural and mechanical characterization of Cu/Sn SLID bonding utilizing Co as contact metallization layer'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Engineering

Material Science

Chemistry