Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Microscopic identification of native donor Ga-vacancy complexes in Te-doped GaAs

  • J. Gebauer
  • , M. Lausmann
  • , T.E.M. Staab
  • , R. Krause-Rehberg
  • , M. Hakala
  • , M.J. Puska
  • Martin Luther University Halle-Wittenberg

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

33 Sitaatiot (Scopus)
215 Lataukset (Pure)

Abstrakti

Native vacancies in Te-doped (5×1016–5×1018cm−3)GaAs were investigated by means of positron lifetime and Doppler-broadening coincidence spectroscopy. The experimental data were related to theoretical calculations of the positron lifetime and the annihilation momentum distribution. Monovacancies were observed in all Te-doped GaAs samples under study. It will be shown that they can directly be identified to be Ga-vacancy–TeAs-donor complexes. These complexes are the dominating type of vacancy defects in the doping range under observation.
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1464-1467
Sivumäärä4
JulkaisuPhysical Review B
Vuosikerta60
Numero3
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 15 heinäk. 1999
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Microscopic identification of native donor Ga-vacancy complexes in Te-doped GaAs'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä