Abstrakti
Native vacancies in Te-doped (5×1016–5×1018cm−3)GaAs were investigated by means of positron lifetime and Doppler-broadening coincidence spectroscopy. The experimental data were related to theoretical calculations of the positron lifetime and the annihilation momentum distribution. Monovacancies were observed in all Te-doped GaAs samples under study. It will be shown that they can directly be identified to be Ga-vacancy–TeAs-donor complexes. These complexes are the dominating type of vacancy defects in the doping range under observation.
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Sivut | 1464-1467 |
| Sivumäärä | 4 |
| Julkaisu | Physical Review B |
| Vuosikerta | 60 |
| Numero | 3 |
| DOI - pysyväislinkit | |
| Tila | Julkaistu - 15 heinäk. 1999 |
| OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä |
Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin 'Microscopic identification of native donor Ga-vacancy complexes in Te-doped GaAs'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.Siteeraa tätä
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver