Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Aalto-yliopiston tutkimusportaaliin Etusivu
ACRIS-ohjeet
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
Tutkimusaineistot ja ohjelmistot
Projektit
Palkinnot
Aktiviteetit
Lehtileikkeet
Tutkimusinfrastruktuurit
Tutkimusyksiköt
Vaikuttavuudet
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
Micromechanical characterization of ALD thin films
Julkaisun otsikon käännös
:
Micromechanical characterization of ALD thin films
Maria Berdova
Tutkimustuotos
:
Doctoral Thesis
›
Collection of Articles
Yleiskatsaus
Sormenjälki
Tutkimusinfrastruktuurit
(1)
Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin 'Micromechanical characterization of ALD thin films'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.
Järjestys:
Painoarvo
Aakkosjärjestyksessä
Material Science
Adhesion
11%
Al2O3
22%
Characterization
100%
Coating
22%
Composite Material
5%
Devices
11%
Elastic Constant
5%
Glass
5%
Interface Property
5%
Material
5%
Mechanical Property
50%
Mechanical Strength
11%
Membrane
16%
Microelectromechanical System
100%
Oxide
5%
Residual Stress
11%
Scratch Testing
5%
Shaft
27%
Solution
5%
Sputtered Film
5%
Thin Films
100%
Engineering
Atomic Layer
100%
Chemical Sensor
11%
Coating
22%
Critical Load
5%
Debonding
11%
Deposited Film
11%
Evaluation
5%
Events
5%
Extraction
16%
Fracture
16%
Glass Substrate
5%
Good Mechanical Property
11%
Graphene
11%
Mechanical Load
5%
Mechanical Properties
38%
Membrane
16%
Microsphere
22%
Piercing
5%
Repeatability
5%
Requirements
5%
Sphere
11%
Stress Condition
5%
Substrates
16%
System Structure
5%
Testing
5%
Thin Films
100%
Titanium Dioxide
22%
Windows
5%