Microchip atmospheric pressure photoionization for analysis of pertoleum by FT-IVR mass spectrometry

Markus Haapala, Jeremiah M. Purcell, Ville Saarela, Sami Franssila, Ryan P. Rodgers, Christopher L. Hendrickson, Tapio Kotiaho, Alan Marshall, Risto Kostiainen

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisuAnalytical Chemistry
    TilaJulkaistu - 2009
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Siteeraa tätä