Metrology for industrial quantum communications: the MIQC project

Maria L. Rastello, Ivo P. Degiovanni, Alistar G. Sinclair, Stefan Kück, Christopher J. Chunnilall, Geiland Porrovecchio, Marek Smid, Farshid Manoocheri, Erkki Ikonen, Toomas Kubarsepp, D. Stucki, K.S. Hong, S.K. Kim, A. Tosi, G. Brida, A. Meda, F. Piacentini, P. Traina, A.Al. Natsheh, Jessica Y. CheungIngmar Müller, R. Klein, Aigar Vaigu

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

9 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
SivutS267-S275
JulkaisuMetrologia
Vuosikerta51
Numero6
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä