Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Aalto-yliopiston tutkimusportaaliin Etusivu
ACRIS-ohjeet
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Julkaisut ja taiteelliset tuotokset
Tutkimusaineistot ja ohjelmistot
Projektit
Palkinnot
Aktiviteetit
Lehtileikkeet
Tutkimusinfrastruktuurit
Tutkimusyksiköt
Vaikuttavuudet
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
Metrology for III-V Optosemiconductors
Julkaisun otsikon käännös
:
III-V puolijohteiden optinen mittaustekniikka
Hans Baumgartner
Tutkimustuotos
:
Doctoral Thesis
›
Collection of Articles
Yleiskatsaus
Sormenjälki
Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin 'III-V puolijohteiden optinen mittaustekniikka'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.
Järjestys:
Painoarvo
Aakkosjärjestyksessä
Physics
Metrology
100%
Light Emitting Diode
100%
Temperature
35%
Solar Cell
35%
Gaps
28%
Photons
14%
Work
7%
Room Temperature
7%
Heating
7%
Alloy
7%
Semiconductor
7%
Controllers
7%
Coating
7%
Light
7%
Ratings
7%
Heat
7%
Optical Properties
7%
Emission Spectra
7%
Electrical Properties
7%
Liquid Cooling
7%
Engineering
Light-Emitting Diode
100%
Aging
28%
Characteristics
21%
Determines
21%
Multijunction Solar Cell
21%
Elements
14%
Temperature
14%
Photons
14%
Elevated Temperature
14%
Heating
7%
High Quality
7%
Models
7%
Forming
7%
High Efficiency
7%
Coating
7%
Production Process
7%
Room Temperature
7%
Analysis Method
7%
Wavelength
7%
Energy Gap
7%
Compound Semiconductor
7%
Resistive
7%
Luminous Efficacy
7%
Emitting Device
7%
Power Rating
7%
Ultraviolet Light
7%
Electrical Power
7%
Alloy Composition
7%
Phosphor
7%
Measurement Setup
7%
Emission Spectrum
7%
Material Science
Light-Emitting Diode
100%
Temperature
42%
Devices
42%
Solar Cell
28%
Material
14%
Alloy
7%
Coating
7%
Liquid
7%
Optical Property
7%
Electrical Property
7%
III-V Semiconductor
7%
Lamp
7%