Menetelmä ja järjestelmä kuvan laadun mittaamiseksi

Hannu Saarelma (Keksijä), Pirkko Oittinen (Keksijä)

    Tutkimustuotos: PatenttiPatent

    AlkuperäiskieliEnglanti
    PatenttinumeroSuomi FI 111141 B (13.06.2003)
    TilaJulkaistu - 2003
    OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetyt patentit

    Tutkimusalat

    • image quality
    • measurement

    Siteeraa tätä