Measuring Electric Field Induced Subpicometer Displacement of Step Edge Ions

Shigeki Kawai, Filippo F. Canova, Thilo Glatzel, Teemu Hynninen, Ernst Meyer, Adam S. Foster

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

16 Sitaatiot (Scopus)
217 Lataukset (Pure)

Abstrakti

We provide unambiguous evidence that the applied electrostatic field displaces step atoms of ionic crystal surfaces by subpicometers in different directions via the measurement of the lateral force interactions by bimodal dynamic force microscopy combined with multiscale theoretical simulations. Such a small imbalance in the electrostatic interaction of the shifted anion-cation ions leads to an extraordinary long-range feature potential variation and is now detectable with the extreme sensitivity of the bimodal detection.
AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli146101
Sivut1-5
Sivumäärä5
JulkaisuPhysical Review Letters
Vuosikerta109
Numero14
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • AFM, KPFM, NaCl

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Measuring Electric Field Induced Subpicometer Displacement of Step Edge Ions'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä