Measurement of the bending of thin inclined nanowires as a method for determining elastic modulus

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

  • RAS - Ioffe Physico Technical Institute
  • Lappeenranta University of Technology

Kuvaus

The method of measuring nanowires elastic modulus by scanning probe microscopy is presented. This method uses the measurement of nanowire bending profiles in the precise force control mode. The possibilities of the method are demonstrated by measuring the Young's modulus of thin tapered InP nanowires.

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli012006
JulkaisuIOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Vuosikerta443
Numero1
TilaJulkaistu - 14 marraskuuta 2018
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa
TapahtumaInternational Conference on Scanning Probe Microscopy - Ekaterinburg, Venäjä
Kesto: 26 elokuuta 201829 elokuuta 2018

Lataa tilasto

Ei tietoja saatavilla

ID: 30313742