Measurement of the bending of thin inclined nanowires as a method for determining elastic modulus

M. S. Dunaevskiy, P. A. Alekseev, P. Geydt, E. Lahderanta, T. Haggren, H. Lipsanen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliConference articleScientificvertaisarvioitu

136 Lataukset (Pure)

Abstrakti

The method of measuring nanowires elastic modulus by scanning probe microscopy is presented. This method uses the measurement of nanowire bending profiles in the precise force control mode. The possibilities of the method are demonstrated by measuring the Young's modulus of thin tapered InP nanowires.

AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli012006
JulkaisuIOP Conference Series: Materials Science and Engineering
Vuosikerta443
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 14 marrask. 2018
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaInternational Conference on Scanning Probe Microscopy - Ekaterinburg, Venäjä
Kesto: 26 elok. 201829 elok. 2018

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Measurement of the bending of thin inclined nanowires as a method for determining elastic modulus'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä