Measurement of dielectric properties at 75 - 325 GHz using a vector network analyzer and full-wave simulator.

Subash Khanal, Tero Kiuru, Juha Mallat, Olli Luukkonen, Antti V. Räisänen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

15 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut551-556
JulkaisuRadioengineering
Vuosikerta21
Numero2
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • dielectric constant
  • loss tangent
  • material measurement.
  • permittivity
  • S-parameters

Siteeraa tätä