Measurement of copper in p-type silicon using charge-carrier lifetime methods

Marko Yli-Koski, Hele Savin, Eero Saarnilehto, Antti Haarahiltunen, Juha Sinkkonen, G. Berenyi, Tibor Pavelka

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut643-648
JulkaisuSolid State Phenomena
Vuosikerta108-109
Numero25
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • copper
  • PCD
  • silicon
  • SPV

Siteeraa tätä