Measurement-Based MESFET Model in APLAC

M. Lähepelto, M. Valtonen

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaEspoo
    Sivut20
    TilaJulkaistu - 1994
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiCircuit Theory Laboratory Report Series
    KustantajaHelsinki University of Technology, Circuit Theory Laboratory
    NumeroCT-22
    ISSN (painettu)0784-5979

    Tutkimusalat

    • APLAC
    • MESFET
    • modeling
    • simulation

    Siteeraa tätä