Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Mapping of the reading dislocations pile-up in Si1-xGex virtual substrates with low angle grazing incidence x-ray topography

  • W.M. Chen
  • , G.D.M. Dilliway
  • , P.J. McNally
  • , T. Tuomi
  • , A.F.W. Willoughby
  • , J. Bonar
  • , L. Knuuttila
  • , J. Riikonen
  • , J. Toivonen

    Tutkimustuotos: Työpaperi › Working paper › Professional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaHampuri
    Sivut331-332
    TilaJulkaistu - 2003
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

    Julkaisusarja

    NimiHASYLAB-DESY Annual Report 2002, Part I

    Tutkimusalat

    • silicon-germanium alloy
    • synchrotron x-ray topography
    • threading dislocations

    Siteeraa tätä