Manipulation of nanometer size aerosol particles with atomic force microscope (AFM)

M. Martin, L. Roschier, B. Schleicher, P. Hakonen, Ü. Parts, E. Kauppinen, M. Paalanen

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoXXXII Annual Conference of the Finnish Physical Society, Tampere, Finland, 19.-21.3.1998
    JulkaisupaikkaTampere
    KustantajaFinnish Physical Society
    Sivut11
    TilaJulkaistu - 1998
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

    Tutkimusalat

    • aerosol particles
    • nanometer

    Siteeraa tätä