Low-T anneal as cure for LeTID in Mc-Si PERC cells

Marko Yli-Koski, Toni P. Pasanen, Ismo Heikkinen, Michael Serué, Hele Savin

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

5 Sitaatiot (Scopus)
116 Lataukset (Pure)

Abstrakti

Light and elevated temperature induced degradation (LeTID) is known to be affected by the last dark anneal that the silicon wafers or cells experience prior to illumination. Here we study how low-temperature dark anneal performed on
fully processed multicrystalline silicon (mc-Si) passivated emitter and rear solar cells (PERC) influences LeTID characteristics, both the intensity of the degradation and the degradation kinetics. Our results show that a relatively long
anneal at 300 °C provides an efficient means to minimize LeTI D while too short dark anneal at the same temperature seems to have a negative impact on the subsequent degradation under light soaking. Finally, we compare the experimental results with the model originally developed for metal precipitation
and discuss the possibility of metals being involved in LeTID mechanism.
AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoSiliconPV 2019, The 9th International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics
KustantajaAIP Publishing
Vuosikerta2147
Painos1
ISBN (elektroninen)978-0-7354-1892-9
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 27 elok. 2019
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaInternational Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics - Leuven, Belgia
Kesto: 8 huhtik. 201910 huhtik. 2019
Konferenssinumero: 9
https://www.siliconpv.com/home/

Julkaisusarja

NimiAIP Conference Proceedings
KustantajaAmerican Institute of Physics
ISSN (painettu)0094-243X

Conference

ConferenceInternational Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics
LyhennettäSiliconPV
Maa/AlueBelgia
KaupunkiLeuven
Ajanjakso08/04/201910/04/2019
www-osoite

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Low-T anneal as cure for LeTID in Mc-Si PERC cells'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä