Localized gallium doping and cryogenic deep reactive ion etching in fabrication of silicon nanostructures

Nikolai Chekurov, Kestutis Grigoras, Antti Peltonen, Sami Franssila, Ilkka Tittonen

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoMRS Spring Meeting 2009, April, San Francisco, USA
Sivut21-26
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisusarja

NimiMaterials Research Society Symposium Proceedings
Vuosikerta1181
ISSN (painettu)0272-9172

Tutkimusalat

  • deep reactive ion etching
  • focuse ion beam
  • nanofabrication

Siteeraa tätä