Light metrology based on inverse scattering analysis and artificial neural networks

J. Saarinen, E. Noponen, E. Oja, O. Simula

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaTampere
    TilaJulkaistu - 1997
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiOptics Day '97, Tampere, 21.3.1997
    KustantajaFinnish Optical Society

    Tutkimusalat

    • diffraction gratings
    • diffractive optics
    • micro-optics
    • rigorous diffraction theory

    Siteeraa tätä