Issues in first-principles calculations for defects in semiconductors and oxides

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

66 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisuModelling and Simulation in Materials Science and Engineering
Vuosikerta17
TilaJulkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • first-principles modeling
  • points defects

Siteeraa tätä