Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

(invited talk) Copper defects in silicon – harmful or not ?

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2022
OKM-julkaisutyyppiEi sovellu
TapahtumaGordon Research Conference on Defects in Semiconductors - Colby-Sawyer College, Boston, Yhdysvallat
Kesto: 14 elok. 2022 → 19 elok. 2022

Conference

ConferenceGordon Research Conference on Defects in Semiconductors
LyhennettäGRC
Maa/AlueYhdysvallat
KaupunkiBoston
Ajanjakso14/08/2022 → 19/08/2022

Siteeraa tätä