Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

(invited talk) Characterization of light-activated copper defects

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2016
OKM-julkaisutyyppiEi sovellu
TapahtumaInternational Conference on Crystalline Silicon Solar Cells - Tempe, Yhdysvallat
Kesto: 10 lokak. 201612 lokak. 2016
Konferenssinumero: 9th

Conference

ConferenceInternational Conference on Crystalline Silicon Solar Cells
LyhennettäCSSC-9
Maa/AlueYhdysvallat
KaupunkiTempe
Ajanjakso10/10/201612/10/2016

Siteeraa tätä