(invited) Ion implantation induced defects and their recovery during silicon solar cell emitter formation

Z. Liu, Ville Vähänissi, Hannu Laine, Antti Haarahiltunen, Hele Savin

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiEi oikeutettu
TapahtumaGordon Research Conference on Defects in Semiconductors - Waltham, Yhdysvallat
Kesto: 3 elok. 20148 elok. 2014

Conference

ConferenceGordon Research Conference on Defects in Semiconductors
Maa/AlueYhdysvallat
KaupunkiWaltham
Ajanjakso03/08/201408/08/2014

Siteeraa tätä