Investigating the effects of silicon tip contamination in noncontact scanning force microscopy (SFM)

Peter V. Sushko, Adam S. Foster, Lev N. Kantorovich, Alexander L. Shluger*

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

23 Sitaatiot (Scopus)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Investigating the effects of silicon tip contamination in noncontact scanning force microscopy (SFM)'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy

Chemical Compounds