Investigating the effects of silicon tip contamination in noncontact scanning force microscopy (SFM)

Peter V. Sushko, Adam S. Foster, Lev N. Kantorovich, Alexander L. Shluger*

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

23 Sitaatiot (Scopus)

Abstrakti

We have studied the possible modifications to a noncontact scanning force microscopy (SFM) silicon tip due to adsorption of species from the gas phase and due to contact with a NaCl surface. A model of the tip was developed based on a 33 atom silicon cluster, and then the different adsorbates were added and changes to tip electrostatic properties investigated. The interaction of a silicon tip with a NaCl surface was modelled quantum mechanically, allowing us to calculate the charge state of the adsorbed chlorine ion in the process of separation of the two surfaces.

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut608-612
Sivumäärä5
JulkaisuApplied Surface Science
Vuosikerta144-145
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - huhtikuuta 1999
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Investigating the effects of silicon tip contamination in noncontact scanning force microscopy (SFM)'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä