Interferometric imaging of reflective micro-objects in the presence of strong aberrations

Elena Ilina*, Markus Nyman, Tanmay Mondal, Matti Kaivola, Tero Setälä, Andriy Shevchenko

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

37 Lataukset (Pure)

Abstrakti

Some imaging techniques reduce the effect of optical aberrations either by detecting and actively compensating for them or by utilizing interferometry. A microscope based on a Mach-Zehnder interferometer has been recently introduced to allow obtaining sharp images of light-transmitting objects in the presence of strong aberrations. However, the method is not capable of imaging microstructures on opaque substrates. In this work, we use a Michelson interferometer to demonstrate imaging of reflecting and back-scattering objects on any substrate with micrometer-scale resolution. The system is remarkably insensitive to both deterministic and random aberrations that can completely destroy the object’s intensity image.

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1817-1826
Sivumäärä10
JulkaisuOptics Express
Vuosikerta28
Numero2
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 1 tammikuuta 2020
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Sormenjälki Sukella tutkimusaiheisiin 'Interferometric imaging of reflective micro-objects in the presence of strong aberrations'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

  • Projektit

    PREIN: Fotoniikan Tutkimus ja Innovaatio

    Mäkelä, K.

    01/01/201931/12/2022

    Projekti: Academy of Finland: Other research funding

    Fotoniikan Tutkimus ja Innovaatio

    Kaivola, M.

    01/01/201931/12/2022

    Projekti: Academy of Finland: Other research funding

    Laitteet

    OtaNano

    Anna Rissanen (Manager)

    Aalto-yliopisto

    Laitteistot/tilat: Facility

  • Siteeraa tätä