Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 3600-3603 |
Julkaisu | Applied Optics |
Vuosikerta | 33 |
Numero | 16 |
Tila | Julkaistu - 1994 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu |
Tutkimusalat
- length metrology, line scales, interferometry
A. Lassila, E. Ikonen, K. Riski
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 3600-3603 |
Julkaisu | Applied Optics |
Vuosikerta | 33 |
Numero | 16 |
Tila | Julkaistu - 1994 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu |