Interfacial resistive anomaly at a normal-superconducting boundary

Y. K. Kwong*, K. Lin, P. J. Hakonen, M. S. Isaacson, J. M. Parpia

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

44 Sitaatiot (Scopus)

Abstrakti

We have observed an anomalous peak (∼5% of the normal-state resistance) in the resistive transition of a thin-film aluminum system consisting of regions of different, but comparable, transition temperatures. The peak occurs at slightly above the transition temperature of the lower Tc section. The magnitude decreases with the distance of the voltage probes from the normal-superconducting (N-S) interface with a characteristic length scale of a few μm and is sensitive to a magnetic field. This anomaly appears to be consistent with a nearly constant superconducting potential near a N-S interface.

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut462-465
Sivumäärä4
JulkaisuPhysical Review B
Vuosikerta44
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 1991
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Interfacial resistive anomaly at a normal-superconducting boundary'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä