Interfacial Compatibility in Microelectronics: Away From the Trial and Error Approach

Tutkimustuotos: KirjaBookScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisupaikkaGermany
Sivumäärä217
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiC1 Erilliset tieteelliset kirjat

Tutkimusalat

  • interfacial compatibility

Siteeraa tätä