Influence of the seed layer on structural and electro-acoustic properties of sputter-deposited AlN resonators

T. Riekkinen, A. Nurmela, J. Molarius, T. Pensala, P. Kostamo, M. Ylilammi, S. van Dijken

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

11 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut6588-6592
Sivumäärä5
JulkaisuThin Solid Films
Vuosikerta517
Numero24
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • aluminium nitride sputtering
  • nickel
  • piezoelectric effect crystallization
  • surface morphology molybdenum
  • titanium

Siteeraa tätä