Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Improved Methods for Development of High Reliability Electronics

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2014 IEEE Aerospace Conference, Marck 1-8,2014Yellowstone conference center, Big Sky, Montana.
JulkaisupaikkaUnited States
KustantajaIEEE
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Siteeraa tätä