Improved Methods for Development of High Reliability Electronics

Jue Li, Hongqun Dong, Vesa Vuorinen, Juha Karppinen, Toni T. Mattila, Mervi Paulasto-Kröckel

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko2014 IEEE Aerospace Conference, Marck 1-8,2014Yellowstone conference center, Big Sky, Montana.
JulkaisupaikkaUnited States
KustantajaIEEE
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

Siteeraa tätä